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Product Center變溫霍爾效應實驗儀霍爾效應的測量是開展半導體研究的重要方法。本機利用計算機的數據采集和處理在80K-400K溫度范圍內對霍爾系數和電導率的聯合測量,行半導體導電機制及散射機制的研究,并可確定半導體的些基本參數,如導電類型、載流子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質電離能等。
餾實驗儀實驗目的: 1、熟悉餾單元操作過程的設備與流程。 2、了解板式塔結構與流體力學性能。 3、掌握餾塔的操作方法與原理。 4、學習餾塔效率的測定方法。
霍爾效應實驗儀實驗內容: 1、霍爾電壓與霍爾電流的關系; 2、霍爾電壓與勵磁電流的關系; 3、電磁鐵氣隙處X方向磁場強度的分布; 4、電磁鐵氣隙處Y方向磁場強度的分布; 5、測量磁感應強度; 6、測量電磁鐵鐵芯的磁導率
穩態平板法測定熱材料導熱系數實驗臺術參數:穩態平板法是種應用維穩態導熱過程的基本原理來測定材料導熱系數的方法,可以用來行導熱系數的測定試驗,測定材料的導熱系數及其與溫度的關系;可測導熱系數在:0.02~400 w/(m.k)的200×200×20何材料。
光纖光譜儀應用綜合實驗儀實驗內容 ????? 1、利用反射光譜測定印刷品顏色; ????? 2、利用透射光譜測定濾光片透過率; ????? 3、利用等離子體光譜測定氣體成分; ????? 4、利用白光干涉測定薄膜厚度測量。