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法拉－塞曼效應綜合實驗儀DP-FD-FZ-I

產品簡介

法拉－塞曼效應綜合實驗儀DP-FD-FZ-I
1945年，法拉（Faraday）在探索電磁現象和光學現象之間的時，發現了種現象，當束平面偏振光穿過介質時，如果在介質中，沿光的傳播方向上加個磁場，就會觀察到光經過樣品后偏振面

產品型號：DP-FD-F
更新時間：2023-06-29
廠商性質：生產廠家
訪問量：1345

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產地類別國產

法拉－塞曼效應綜合實驗儀DP-FD-FZ-I
1945年，法拉（Faraday）在探索電磁現象和光學現象之間的時，發現了種現象，當束平面偏振光穿過介質時，如果在介質中，沿光的傳播方向上加個磁場，就會觀察到光經過樣品后偏振面轉過個角度，亦即磁場使介質具有了旋光性，這種現象后來稱為法拉效應。1896年,荷蘭物理學家塞曼(P.Zeeman)發現當光源放在足夠強的磁場中時，原來的條光譜線分裂成幾條光譜線，分裂的譜線成分是偏振的，分裂的條數隨能級的類別而不同，后人稱此現象為塞曼效應。法拉效應和塞 曼 效應是19紀實驗物理學家的重要成就之，它們有力的支持了光的電磁理論，隨著現代的發展，這兩種經典的實驗效應被廣泛應用于激光、磁光及凝聚 態域 。 
　法拉－塞曼效應綜合實驗儀DP-FD-FZ-I　本公司的 DP-FD-FZ-I型法拉效應塞 曼 效應綜合實驗儀是將兩種實驗效應合理地整合成臺、多測量實驗教學儀器。應用該實驗儀可以成法拉效應和塞曼效應的轉換測量，學習磁光作用的特性。該實驗儀可以作為大專院校光學及近代物理實驗教學使用，也可以作為測量材料特性、 光譜及磁光 作用的研究應用。 
　　儀器主要參數： 
　　1.氦氖激光器 波長 632.8nm 輸出率 >1.5mW 光斑直徑 2.6mm 
　　2.電磁鐵 zui大磁感應強度 1.28T 
　　3.勵磁電源 zui大輸出電流 5A zui大輸出電壓 30V 
　　4.低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm 
　　5.法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm 
　　6.干涉濾光片 中心波長 546.1nm 
　　7.讀數顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍 8mm 
　　8.法拉效應 zui小測角 2分 

 

 

 

 

法拉效應塞曼效應綜合實驗儀         型號；DP-FD-FZ-C
1945年，法拉（Faraday）在探索電磁現象和光學現象之間的時，發現了種現象，當束平面偏振光穿過介質時，如果在介質中，沿光的傳播方向上加個磁場，就會觀察到光經過樣品后偏振面轉過個角度，亦即磁場使介質具有了旋光性，這種現象后來稱為法拉效應。1896年,荷蘭物理學家塞曼(P.Zeeman)發現當光源放在足夠強的磁場中時，原來的條光譜線分裂成幾條光譜線，分裂的譜線成分是偏振的，分裂的條數隨能級的類別而不同，后人稱此現象為塞曼效應。法拉效應和塞 曼 效應是19紀實驗物理學家的重要成就之，它們有力的支持了光的電磁理論。 
　　本公司的DP- FD-FZ-C型法拉效應塞 曼 效應綜合實驗儀是在I型的基礎上改而成，將原來維調節的氦氖激光器改為兩維調節的半導體激光器，這樣成法拉效應時調節更加準確方便，并且激光輸出率更加穩定。電磁鐵中心磁場強度也比以前有了顯著提，zui大可以達到1.4T。測角儀器將原來的游標測量的方法改為螺旋測微（將角位移轉換為直線位移），這樣讀數更加方便。該實驗儀可以作為大專院校光學及近代物理實驗教學使用，也可以作為測量材料特性、 光譜及磁光 作用的研究應用。 
　　儀器主要參數： 
　　1. 半導體激光器 波長 650nm 輸出率 >1.5mW 光斑直徑 約1mm 
　　2. 電磁鐵 zui大磁感應強度約1.35T（與勵磁電源有關） 
　　3. 勵磁電源 zui大輸出電流 5A zui大輸出電壓 30V 
　　4．低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm 
　　5．法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm 
　　6．讀數顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍 8mm 
　　7．法拉效應 zui小測角約 2分

 

 

 

 

 

塞曼效應實驗儀(電磁型) 型號：DP-FD-ZM-B
 
1896年,荷蘭物理學家塞曼(P.Zeeman)發現當光源放在足夠強的磁場中時，原來的條光譜線分裂成幾條光譜線，分裂的譜線成分是偏振的，分裂的條數隨能級的類別而不同，后人稱此現象為塞曼效應。 塞曼效應是繼英物理學家法拉1845年發現磁致旋光效應，克爾1876年發現磁光克爾效應之后，發現的又個磁光效應。 塞曼效應不僅證實了洛侖茲電子論的準確性，而且為 湯姆遜 發現電子提供了證據。還證實了原子具有磁矩并且空間取向是量子化的。1902年，塞曼與洛侖茲因這發現共同獲得了諾貝爾物理學獎。直到今日，塞曼效應仍舊是研究原子能級結構的重要方法。 
　　 FD-FZ-I型塞曼效應實驗儀具有磁場穩定，測量方便，實驗分裂環清晰等特點，適用于等院校近代物理實驗和性實驗。 
　　應用該實驗儀主要成以下實驗： 
　　1．掌握觀測塞曼效應的實驗方法， 加深對原子磁矩及空間量子化等原子物理學概念的理解。 
　　2．觀察汞原子 546.1nm譜線的分裂現象以及它們偏振狀態，由塞曼裂距計算電子荷質比。 
　　3．學習法布里-珀羅標準具的調節方法 
　　4．學習CCD器件在光譜測量中的應用。（其中CCD器件、采集系統及實驗分析軟件選購） 
　　儀器主要參數： 
　　1. 電磁鐵 zui大磁感應強度 1.28T 勵磁電源 zui大輸出電流 5A zui大輸出電壓 30V 
　　2．低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm 
　　3．法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm 
　　4．干涉濾光片 中心波長 546.1nm 
　　5. 讀數顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍8mm

 

 

 

 

 

磁塞曼效應實驗儀         型號；DP-FD-ZM-A
　在大專院校的實驗教學中，塞曼效應是經典的近代物理實驗內容，通過該實驗現象的觀察，可以了解磁場對光產生的影響，認識發光原子內的運動狀態，加深對原子磁矩和空間取向量子化的理解，并確測量電子的荷質比。 
　 DP-FD-ZM-A型磁塞曼效應實驗儀與儀器相比具有以下特點： 
　　1．磁場由磁鐵提供，具有穩定性好，中心磁感應強度的特點；并且通過機械調節改變磁頭間距，調節中心的磁感應強度。 
　　2．實驗儀的磁鐵和光學導軌固定連接，導軌由鋁合金型材制成，表面陽氧化，不生銹，并且導軌上配有標尺，這樣實驗調節方便，重復性好。 
　　3．實驗儀配有度特斯拉計，可以確測定中心磁感應強度。 
　　DP-FD-ZM-A型磁塞曼效應實驗儀主要由實驗儀主機（包括特斯拉計、汞燈電源）、磁鐵、筆形汞燈、會聚透鏡、干涉濾光片、F-P標準具、偏振片、成像透鏡、讀數顯微鏡組成。選配件：象素CCD采集系統、USB口外置圖像采集盒、塞曼效應實驗分析軟件。 
　　儀器主要參數： 
　　1．磁鐵中心磁感強度 1360mT 
　　2．標準具通光口徑 40mm 
　　3．標準具空氣隙間隔 2mm 
　　4．濾光片中心波長 546.1nm 
　　5．讀數顯微鏡度 0.01mm
　　6．特斯拉計分辨率 1mT 
　　7．CCD有效象素（選配）752×582

 

 

 

 

 

 

表面磁光克爾效應實驗系統       型號；DP-FD-SMOKE-A
在 1845年，Michael Faraday發現了磁光效應，他發現當外加磁場加在玻璃樣品上時，透射光的偏振面將發生旋轉的效應，隨后他在外加磁場之金屬表面上做光反射的實驗，但由于他所謂的表面并不夠平整，因而實驗結果不能使人信服。1877年John Kerr在觀察偏振化光從拋光過的電磁鐵磁反射出來時，發現了磁光克爾效應(magneto-optic Kerr effect)。1985年Moog和Bader兩位學者行鐵薄膜磊晶成長在金單晶(100)面上的磁光克爾效應量做實驗，成地得到原子層厚度磁性物質之磁滯回線，并且提出了以SMOKE來作為表面磁光克爾效應 (surface magneto-optic Kerr effect)的縮寫，用以表示應用磁光克爾效應在表面磁學上的研究。由于此方法之磁性解析靈敏度達原子層厚度，且儀器配置合于真空系統之作，因而成為表面磁學的重要研究方法。 
　　它在磁性薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性薄膜的相變行為等方面的研究中都有重要應用。應用該系統可以自動掃描磁性樣品的磁滯回線，從而獲得薄膜樣品矯頑力、磁各異性等方面的信息。另外，該系統可以和真空系統相連，對磁性薄膜和薄膜行原位測量。 
　　儀器主要參數： 
　　1．半導體激光器 波長 650nm 輸出率 2mW 
　　2．偏振棱鏡 格蘭－湯普遜棱鏡 通光孔徑 8mm 消光比10 －5 主透射比90％ 
　　3．電磁磁鐵 中心zui大磁感應強度0.3T 磁間隙 30mm 
　　4．恒流電源 zui大電壓 38V zui大輸出電流 10A

 

 

 

 

 

 

 

溫馨提示：以上產品資料和圖片都是按照順序相對應的
  
本公司主營 液氮治療儀，電測水位計，空盒氣壓表，奧氏氣體分析儀。四聯自動射流萃取器，煙塵煙氣分析儀，便攜式煙氣分析儀，金屬粉末流動性測定儀， 污垢熱阻檢測儀 ，數字式大氣壓計 ，不銹鋼自動溶液過濾器，紫外輻照計，氫氣發生器，露點傳感器 ，紅外測油儀 ，污染數SDI測定儀，三聚氰胺速測儀 ，粉體綜合特性測試儀 粉體特性測試儀 放射性檢測儀，防靜電表/靜電測試儀/ 濕式氣體流量計 氣體流量計 流量計等。公司秉承“顧客至上，銳意取”的經營理念，堅持“客戶*”的原則為廣大客戶提供優質的服務。歡迎惠顧！

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